Тензорезистивный эффект
Те́нзорезисти́вный эффе́кт (от лат. tenzo — растягиваю и лат. resisto — сопротивляюсь) — изменение электрического сопротивления материалов под действием механического сжатия или растяжения, а также одноосной деформации[1].
Физические основы[править]
Тензорезистивный эффект возникает при механическом воздействии (сжатии или растяжении) кристаллов (часто полупроводниковых), металлов, а в резистивных структурах — за счёт внутренних температурных деформаций[2].
Количественной оценкой величины тензорезистивного эффекта является коэффициент тензочувствительности:
,
где — электрическое сопротивление, — относительная деформация кристалла.
В полупроводниковых кристаллах[3] тензорезистивный эффект определяется нарушениями в энергетическом спектре носителей заряда при возникновении внешней деформации кристалла, что приводит к изменениям ширины запрещённой зоны и энергии ионизации примесных уровней (в несобственных полупроводниках); в многодолинных полупроводниках — с расщеплением вырожденных (в отсутствие деформации) дырочных зон, а также с изменением эффективной массы носителей заряда полупроводника[4].
Деформация полупроводникового кристалла приводит к изменению ширины запрещённой зоны:
,
где — ширина запрещённой зоны в отсутствие деформации, — барический коэффициент, имеющий размерность эВ/Па, — механическое напряжение, выраженное в паскалях (Па). Барические коэффициенты зависят от кристаллографической плоскости кристалла и соотношения направления деформации к ним. Концентрация электронов проводимости при изменении ширины запрещённой зоны полупроводника c учётом наличия примеси имеет вид:
,
где — концентрация донорной примеси (см−3), и — эффективные плотности состояний в зоне проводимости и валентной зоне соответственно (см−3).
В этом случае удельное электрическое сопротивление полупроводника изменяется по закону:
,
где — удельное электрическое сопротивление полупроводника в отсутствие деформации (Ом см), — продольный коэффициент пьезосопротивления (Па−1), зависящий от параметров кристаллической решётки, типа проводимости и кристаллографического направления.
Применение[править]
Первый образец приклеиваемого тензорезистора был изготовлен Е. Е. Сименсом и Л. С. Руже в 1938 году, а в СССР стали применяться в 40-х годах ХХ века. Материалами для изготовления тензодатчиков чаще всего являются константан, сплав карма, широкий спектр полупроводниковых материалов (в частности, кремний как - типа проводимости, так и -типа проводимости), и др.
Тензорезистивный эффект используется при создании различных датчиков физических величин, в частности, давления, силы, ускорения (акселерометрах), перемещения, в тензометрах и других устройствах. Кроме того, тензорезистивный эффект используется в устройствах термической компенсации температурного коэффициента сопротивления в прецизионных металлофольговых резисторах[5]. Тензорезисторы применяются для измерений как статических, так и динамических деформаций.
Примечания[править]
- ↑ Большая советская энциклопедия в 50-ти томах. — 1954.
- ↑ Недорезов В. Г. Обобщенная модель тензорезистивного эффекта // Труды Международного симпозиума «Надежность и качество». — 2016.
- ↑ Займан Дж. Принципы теории твёрдого тела. — Москва: Мир, 1966.
- ↑ Сивухин Д. В. Общий курс физики. В 5 т. Т. 3. Электричество. — 9-е изд. — Москва: Физматлит, 2005.
- ↑ Лапин Андрей Павлович, Гайфулин Никита Маратович, Сулейманова Лейсан Нуритдиновна, Юнусова Гузель Руслановна Методика изучения физических эффектов, используемых для измерения давления // Вестник Южно-Уральского государственного университета. Серия: Компьютерные технологии, управление, радиоэлектроника. — 2019. — № 1.
Литература[править]
- Рузга З. Электрические тензометры сопротивления. — Москва : Мир, 1964.
- Займан Дж. Принципы теории твёрдого тела. — Москва : Мир, 1966.
- Ашкрофт Н., Мермин Н. Физика твёрдого тела. — Москва: Мир, 1979.
- Цидильковский И. М. Электроны и дырки в полупроводниках. Энергетический спектр и динамика. — Москва : «Наука», 1972.
- Новожилов В. В., Кадашевич Ю. И. Микронапряжения в конструкционных материалах — Л. : Машиностроение, 1990.
- Бонч-Бруевич В. Л., Калашников С. Г. Физика полупроводников. — Москва : Наука, 1990.
- Гуртов В. А. Твердотельная электроника. — Москва : «ТЕХНОСФЕРА», 2008.
- Ансельм А. И. Введение в теорию полупроводников : учебное пособие для вузов. — 3-е изд., стер. — СПб. : Лань, 2008.
- Шалимова К. В. Физика полупроводников. — СПб. : «Лань», 2010.
- Сивухин Д. В. Общий курс физики. Т. 3. Электричество. — Москва : Физматлит, 2014.
Ссылки[править]
- Тензорезистивный эффект
- Тензорезистивный эффект // Большая советская энциклопедия : в 30 т. / гл. ред. А. М. Прохоров. — 3-е изд. — М. : Советская энциклопедия, 1969—1978.
![]() | Одним из источников, использованных при создании данной статьи, является статья из википроекта «Рувики» («ruwiki.ru») под названием «Тензорезистивный эффект», расположенная по адресу:
Материал указанной статьи полностью или частично использован в Циклопедии по лицензии CC-BY-SA 4.0 и более поздних версий. Всем участникам Рувики предлагается прочитать материал «Почему Циклопедия?». |
---|